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[据国外媒体报道]美国Seory分析公司日前表示，该公司的涂层测量技术已通过美国专利局的审核，成为公司的第三项专利技术。 据了解，此项专利技术采用了传感器技术，可对涂层进行非接触式测量。Seory公司首席执行官福斯比说：“我们十分注重科技的创新，这项专利技术拓展了公司现有的知识产权体系。我们还准备将技术研究领域拓展到制造业和产品加工业，为股东带来更多的利益。” 据介绍，Seory公司此前已推出了一系列测量工具。其中包括ecmetrix和ecmetrix RA涂层测量系统。所有的测量分析系统均可为用户提供精确及时的涂层测量结果，且不必破坏样品的涂层。目前这些专利技术已在建筑工程中广泛使用。（杨明编译） 本文中文版权归左右，转载时须注明“”，违者必纠！